Wang W., Liu S., Zheng T., Liu. L., Li. Y.
Ключевые слова: HTS, YGdBCO, coated conductors, multilayered structures, fabrication, PLD process, critical caracteristics, critical current, thickness dependence, buffer layers, X-ray diffraction, microwave devices, experimental results
Applied Surface Science, 2019, v.466, N , p.601-606
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.